Заключение

Новая экспериментальная методика всегда позволяет увидеть и узнать то, что ранее было неизвестно. АСМ можно использовать для определения типа атома в кристаллической решётке. С помощью атомно-силового микроскопа удается наблюдать многие события, разыгрывающиеся на поверхности растущего кристалла (особенно кристалла белка), но, к сожалению, не все. Острие иглы кривизной 5 нм может различить периодическую структуру молекул на порядок меньшего размера, но не может различить адсорбированные поверхностью отдельные молекулы такого размера. Пока в растворе удается увидеть элементарные акты при соединения строительных единиц к кристаллам белков, но не к кристаллам неорганических соединений. В последнем случае неизвестно, что присоединяется к изломам, что является строительной единицей -- ионы, молекулы или их группы. Это сдерживает развитие теории и не позволяет предсказать влияние различных факторов на кинетику кристаллизации. Нет также способа узнать, что происходит в приповерхностном слое раствора. Находящиеся в растворе ионы, молекулы и их комплексы окружены гидратными оболочками, непонятно где, как и в какой момент происходит освобождение от них. Сейчас можно только гадать, какой именно прибор позволит разобраться в этом.

Перспективным направлением считается совмещение сканирующих зондовых микроскопов с другими традиционными и современными методами исследованиями, а также создание принципиально новых приборов. Например, совмещение СЗМ с оптическими микроскопами (традиционными и конфокальными микроскопами), электронными микроскопами, спектрометрами (например, спектрометрами комбинационного (рамановского) рассеяния и флуоресцентными), ультрамикротомами

Библиографический список использованной литературы

1. http://www.nanoscience.com/education/afm.html

2. Атомный силовой микроскоп. Журналы. Наука и техника 1989. №9.

3. В. Л. Миронов, Основы сканирующей зондовой микроскопии. Российская академия наук, Институт физики микроструктур г. Нижний Новгород, 2004 г.

4. Гусев А.И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. - М.: ФИЗМАТЛИТ, 2007.

5. Суслов А. А., Чижик С. А. Сканирующие зондовые микроскопы (обзор) // Материалы, Технологии, Инструменты -- Т.2 (1997), № 3

6. Учебно-научный центр Бионаноскопия [Электронный ресурс]