3.2. Расчет надежности

Интенсивность отказов характеризуется отношением числа отказавших изделий в единицу времени к числу изделий, продолжающих оставаться исправными к началу рассматриваемого промежутка времени:

= m/Nt , (3.1)

где m - число изделий, отказавших за время t,

N - число исправно работающих изделий к началу промежутка времени.

Если предположить, что отказы различных элементов взаимно независимы и каждый отказ носит катастрофический характер, т.е. полностью нарушает работоспособность, то интенсивность отказов устройства равна сумме интенсивностей отказов элементов составляющих устройство.

, (3.2)

где i - интенсивность отказов элементов i-го типа;

Сi - количество элементов i-го типа, входящих в устройство.

Наработка на отказ равна:

Т = 1/ (3.3)

Интенсивность отказа элементов следующая:

Микросхемы 1533^й серии 0,85 * 10^-6 (1/ч);

Резисторы 0,9 * 10^-6 (1/ч);

Тогда,

= (170,85+20,9)10^-6 = 16,25 10^-6 1/ч,

Т = 1/16,25 10^-6 = 0,062 10^-6 = 6,2 10^-4 (ч).