Введение

Стремительный рост сложности современных систем управления технологическими процессами и оборудованием вызывает необходимость решения многих проблем, среди которых важное место занимают вопросы обеспечения необходимого уровня отказоустойчивости, работоспособности, продуктивности и быстрой адаптации к классу решаемых задач. Одним из эффективных путей достижения высоких показателей надежности систем управления на основе микроконтроллеров является введение аппаратной, программной и временной избыточности, которые обеспечивают отказоустойчивость в случае присутствия дефектов определенного класса.

Развитие субмикронных технологий, широкое применение сигнальных процессоров, микроконтроллеров и программируемых интегральных схем с числом выходов, которое достигает 1000 на одну микросхему, которые функционируют на тактовой частоте 1ч5 ГГц, приводит к значительному увеличению стоимости диагностирующего оборудования на всех этапах жизни управляющих систем. Существующие системы диагностического обеспечения дискретных устройств и систем на одном кристалле, подсистемы генерации тестов и моделирования неисправностей в большинстве случаев ориентированы на выявление класса неисправностей константного типа, что неадекватно отображает множество дефектов в субмикронной технологии.

Учитывая особенности субмикронных технологий производства интегральных схем, условия эксплуатации управляющих систем в рамках жестких ценовых и временных условий, необходимо объединить методы функциональной и тестовой диагностики и реализовать их в виде программно-аппаратных модулей сигнатурного мониторинга, встроенных на кристалл.

В связи с этим, разработка методов синтеза и логического проектирования модулей сигнатурного мониторинга на клеточных автоматах является актуальной проблемой, учитывая их экономичность и высокую производительность.