logo
Методы локализации неисправностей на аппаратуре СВ и РМ

Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне

Неисправность АРМ (РМ-10), проявляющаяся в яркой засветке экрана ЭЛТ БИО, может быть обусловлена либо неисправностью БИО, либо ошибкой выдаваемых на БИО данных и, соответственно, неисправностью ЦВУ. Для определения места возникновения неисправности необходимо провести проверку БИВ. Так как БИВ для формирования изображения также использует информацию, поступающую от ЦВУ, то, в случае возникновения неисправности в ЦВУ, экран БИВ будет ярко засвечен. Если БИВ функционирует нормально, то можно сделать вывод о наличии неисправности в БИО.

Рисунок 1. Алгоритм поиска неисправности на структурном уровне.

Рисунок 2. Структурная схема РМ-10.