Заключение
В данной курсовой работе был разработан программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем 155 серии. Разработанное устройство выполняет функциональный контроль интегральных микросхем по принципу "годен" - "не годен". Тестированию подвергаются интегральные микросхемы, имеющие корпус DIP14 с 14 выводами и стандартное подключение питания: 14 вывод - "+5В", 7 вывод - "общий". В процессе выполнения работы была составлена блок-схема алгоритма, и по ней составлена подпрограмма тестирования интегральной микросхемы К155ЛА1.
Список литературы.
1. Однокристальные микроЭВМ. - М.: МИКАП, 1994. - 400 с.: ил.
2. Сташин В.В. и др. Проектирование цифровых устройств на однокристальных микроконтроллерах. /В.В. Сташин, А.В. Урусов, О.Ф. Мологонцева. - М.: Энергоатомиздат, 1990. - 224 с.
3. Справочник по интегральным микросхемам. / Б.В. Тарабрин, С.В. Якубовский, Н.А. Барканов и др.; Под ред. Б.В. Тарабна. - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Энергия, 1980. - 816 с., ил.
4. Аванесян Г.Р., Левшин В.П. Интегральные микросхемы ТТЛ, ТТЛШ/ - М.: Машиностроение, 1993. - 252 с.
5. Основы микропроцессорной техники. /Курс лекций. Кудинов А.К. - Тольятти: 2004.
- Введение
- 1. Техническое задание
- 2. Инженерная интерпретация задачи
- 3. Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма работы контроллера
- 4. Разработка интерфейса программно-аппаратного комплекса
- 5. написание подпрограммы тестирования интегральной микросхемы К155ЛА1
- 6. Выбор расчет элементов схемы
- Заключение