Введение
В настоящее время, производство радиоэлектронных компонентов и микросхем очень распространено. Однако при их производстве возникает вопрос работоспособности изготовленного элемента. Так как качество получаемого элемента зависит от внутренней структуры материала, в которой могут быть дефекты. В данном случае элемент окажется неработоспособным. Поэтому необходимо после изготовления проводить испытания, по результатам которых делать выводы о работоспособности элемента. Устройства, проводящие проверку правильности функционирования, называют тестерами. При проверке работоспособности интегральных микросхем целесообразно использовать универсальные тестеры, способные тестировать несколько типов микросхем. Задачей данного курсового проекта является разработка программно-аппаратного комплекса для тестирования интегральных микросхем 155 серии.
- Введение
- 1. Техническое задание
- 2. Инженерная интерпретация задачи
- 3. Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма работы контроллера
- 4. Разработка интерфейса программно-аппаратного комплекса
- 5. написание подпрограммы тестирования интегральной микросхемы К155ЛА1
- 6. Выбор расчет элементов схемы
- Заключение