9.3. Перечень тестов

ТЕСТИРОВАНИЕ ПАМЯТИ

00

Комплексный

(все микросхемы ПЗУ и ОЗУ)

00 – тест прошел;

 00 – номер микросхемы,

не прошедшей тест.

01-04

Микросхемы ПЗУ(1-4)

00 – тест прошел;

 00 – номер микросхемы,

не прошедшей тест.

05-08

Микросхемы ОЗУ(1-4)

00 – тест прошел;

 00 – номер микросхемы,

не прошедшей тест.

09

Стирание ППЗУ

00 – ППЗУ стерто или отсутствует.

09 – ППЗУ не стерто.

10

Проверка информации

в ППЗУ

00 – информация в ППЗУ

сохранена.

10 – информация в ППЗУ

не сохранена.

20 – информация в ППЗУ

не записана.

ТЕСТИРОВАНИЕ ИНТЕРФЕЙСА

11

Обмен по интерфейсу

00 – канал интерфейса исправен

11–канал интерфейса не исправен.

12

Частота обмена

по интерфейсу

00 – тест прошел.

Время прохождения теста примерно 51 секунда.

Мигает точка на нижнем ЦИ (во время тестирования)

ТЕСТИРОВАНИЕ СТОРОЖА ЦИКЛА

13

Сторож цикла

Через одну секунду ЦИ гаснет – тест прошел

13 – тест не прошел.

ТЕСТИРОВАНИЕ КЛАВИАТУРЫ И ИНДИКАТОРОВ

14

ПН-1

Контролируются индикаторы.

15

ЛП Р-130

Контролируются индикаторы.

ТЕСТИРОВАНИЕ УСО Р-130

16

ЦАП, Гр.А

Контроль аналоговых выходов Гр.А.

17

ЦАП, Гр.Б

Контроль аналоговых выходов Гр.Б.

18

ЦДП, Гр.А

75.01 – короткое замыкание (КЗ) Гр.А. Результат на дискретном выходе, если нет КЗ.

19

ЦДП, Гр.Б

75.02 – короткое замыкание(КЗ) Гр.Б. Результат на дискретном выходе, если нет КЗ.

ТЕСТИРОВАНИЕ ШЛЮЗА

11

Обмен по интерфейсу

00 – канал интерфейса исправен.

11 – канал интерфейса

не исправен.

После включе-ния для шлюза 11- обязателен

20

Обмен по интерфейсу

00 – тест прошел, канал исправен.

20 – канал не исправен

После включе-ния для шлюза 20- обязателен

21

Частота обмена

по интерфейсу

00 – тест прошел. время прохождения 102 с.

 00 – тест не прошел.

Мигает точка на нижнем ЦИ